Q.
电容器的老化特性 (2)：Class I电容器和Class II电容器之间有什么不同？
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A.
度补偿用电容（EIA I类）和高介电常数电容（EIA II类）电容的差异。温度补偿相对介电常数为10〜100，高介电常数的类型是使用具有1000至10000的相对介电常数的材料，材料系是不同的。
Class I 电容器* (C0G、CH)的温度特性是稳定的，它基本不随温度，电压的变化，时间的推移而发生变化，CH和C0G电容的温度依赖性小，它的容值变化率是±30PPM/°C。因此，它是适用于要求温度和电压稳定的电路应用。
Class II 电容器2 (X5R，X7R、Y5V)的特性对于温度、电圧、时间的变化是比较大的，与Ⅰ类相比，电容的温度变化较大但它可以获得高容值的电容，用于整流、傍路等用途。
此外，采用钛酸钡为介质主材制造的电容器（Class II、III和IV）为强电介质体，因此容易“老化”，在未加热或充未电状态下放置,随着时间的推移电容器的容値会下降。Class I电容器不是强电介质体，因此不会老化。
*EIA-198-D, Page I-1
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